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Tobias Erlbacher
Lateral Power Transistors in Integrated Circuits
2016, xix, 223 S., XIX, 223 p. 157 illus. 235 mm, Softcover
Springer
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Lateral Power Transistors in Integrated Circuits
2016, xix, 223 S., XIX, 223 p. 157 illus. 235 mm, Softcover
Springer
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Maral Azizi
Eisenverunreinigungen in multikristallinem Silizium: Gerichtete Erstarrung und Analyse der strukturellen und elektrischen Eigenschaften
Hrsg.: Fraunhofer IISB, Erlangen
2014, 202 S., zahlr., z.T. farb. Abb. u. Tab., Softcover
Fraunhofer Verlag
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Eisenverunreinigungen in multikristallinem Silizium: Gerichtete Erstarrung und Analyse der strukturellen und elektrischen Eigenschaften
Hrsg.: Fraunhofer IISB, Erlangen
2014, 202 S., zahlr., z.T. farb. Abb. u. Tab., Softcover
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P. Pichler
Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon
Computational Microelectronics
2004, XXI, 554 p. S., 40 SW-Abb. 254 mm, Hardcover
Springer, Wien
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Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon
Computational Microelectronics
2004, XXI, 554 p. S., 40 SW-Abb. 254 mm, Hardcover
Springer, Wien
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