![Buch: Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon, P. Pichler, 978-3-211-20687-4 Buch: Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon](https://www.irbnet.de/daten/bildanzeige/Normal/12952848.jpg)
Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon
Computational Microelectronics
P. Pichler
2004, XXI, 554 p. S., 40 SW-Abb. 254 mm, Hardcover
Sprache: Englisch
Springer, Wien
ISBN 978-3-211-20687-4
Computational Microelectronics
P. Pichler
2004, XXI, 554 p. S., 40 SW-Abb. 254 mm, Hardcover
Sprache: Englisch
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ISBN 978-3-211-20687-4
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Fraunhofer IISB, silicon, dopant, point defects, agglomerate, diffusion,
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