Publikationen aus der Reihe: Computational Microelectronics (2):

Treffer: 1 bis 2


P. Pichler
Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon
Computational Microelectronics
2004, XXI, 554 p.  S., 40 SW-Abb. 254 mm, Hardcover
Springer, Wien

mehr Infos

 
V. Palankovski, Rüdiger Quay
Analysis and Simulation of Heterostructure Devices
Computational Microelectronics
2004
2003, xx, 289   S., XX, 289 p. 235 mm, Hardcover
Springer, Wien

mehr Infos

 



* Alle Preise verstehen sich inkl. der gesetzlichen MwSt. Lieferung deutschlandweit und nach Österreich versandkostenfrei. Informationen über die Versandkosten ins Ausland finden Sie hier.